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标题: NANO130KE3BN晶片USB_HID功能Window Tool使用疑問 [打印本页]

作者: f57730 时间: 2015-8-27 14:17
标题: NANO130KE3BN晶片USB_HID功能Window Tool使用疑問
大家好
我使用\Nano100B_Series_BSP_CMSIS_V3.02.000\Nano100B Series BSP_CMSIS_V3.02.000\SampleCode\StdDriver\USBD_HID_Transfer\KEIL
裡頭的檔案燒錄進NANO130KE3BN晶片
並且想要使用內附的Window Tool觀察資料的傳輸
但是我利用Visual C++ compile出Window Tool應用程式
他卻會顯示single sector erase test fail的訊息
請問各位有沒有遇過相關問題
希望可以提出解決方法

未命名1569.png (106.61 KB, 下载次数: 377)

vc++結果

作者: CHLIN55 时间: 2015-8-28 11:13
在最後Single sector erase test的階段,
執行比對的時候多比對一個sector,
使得比對超出buf的大小(8KB).

將以下程式碼註解再執行就可以了.
for(i = SECTOR_SIZE * 2; i < SECTOR_SIZE * 3; i++)
{
      if(buf[i] != (i & 0xFF))
      {
         isErr = 1;
         break;
      }
}

作者: f57730 时间: 2015-8-28 15:41
先謝謝CHLIN55回答問題，問題順利解決了
但是執行的結果如圖
我原先想像的是他會出現輸入及輸出視窗
可以讓我觀察輸入及輸出資料
我有什麼步驟沒有做嗎?
我是不是需要在TODO的程式碼中打什麼程式呢?

1578.png (122.79 KB, 下载次数: 378)

vc++結果

未1485.png (11.76 KB, 下载次数: 372)

TODO程式碼

作者: CHLIN55 时间: 2015-8-28 15:58
看code的部分並沒有包含可以輸入資料的部分,
執行erase, write, read那幾個sector等等步驟是已經寫好在main()當中.
你可以修改main()的內容,
增加要求輸入數字來操作指定的sector或是print read到的data,
諸如此類.

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