[NUC] 離散的I/O如何匯總在一個變數做讀寫?

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Albert_Kuang 发表于 2022-8-14 19:21:49 | 只看该作者 |只看大图回帖奖励

請看圖列，C語法中是否可將pin35~pin42的I/O定義到一個變數TEST下。透過TEST變數對那些I/O做一次的讀寫。
這個目的是讓PCB layout可以方便匯流走線。
若有好方法請給些範例
謝謝

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