NANO130KE3BN晶片USB_HID功能Window Tool使用疑問

大家好
我使用\Nano100B_Series_BSP_CMSIS_V3.02.000\Nano100B Series BSP_CMSIS_V3.02.000\SampleCode\StdDriver\USBD_HID_Transfer\KEIL
裡頭的檔案燒錄進NANO130KE3BN晶片
並且想要使用內附的Window Tool觀察資料的傳輸
但是我利用Visual C++ compile出Window Tool應用程式
他卻會顯示single  sector  erase test fail的訊息
請問各位有沒有遇過相關問題
希望可以提出解決方法

看code的部分並沒有包含可以輸入資料的部分,
執行erase, write, read那幾個sector等等步驟是已經寫好在main()當中.
你可以修改main()的內容,
增加要求輸入數字來操作指定的sector或是print read到的data,
諸如此類.

先謝謝CHLIN55回答問題，問題順利解決了
但是執行的結果如圖
我原先想像的是他會出現輸入及輸出視窗
可以讓我觀察輸入及輸出資料
我有什麼步驟沒有做嗎?
我是不是需要在TODO的程式碼中打什麼程式呢?

在最後Single sector erase test的階段,
執行比對的時候多比對一個sector,
使得比對超出buf的大小(8KB).

將以下程式碼註解再執行就可以了.
   for(i = SECTOR_SIZE * 2; i < SECTOR_SIZE * 3; i++)
    {
        if(buf[i] != (i & 0xFF))
        {
            isErr = 1;
            break;
        }
    }